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用于解决在高台阶基底条件下光刻胶涂布异常的方法

摘要

本发明涉及集成电路制造工艺领域,公开了一种用于解决在高台阶基底条件下光刻胶涂布异常的方法,包括以下步骤:步骤一、在高台阶衬底上首先涂布一层可显影抗反射材料,用于降低表面的台阶上需要涂光刻胶位置起伏的高度;步骤二、在可显影抗反射材料之上涂布光刻胶。通过在高台阶衬底上首先涂布一层相对较薄的可显影抗反射材料,由于可显影抗反射材料平整性较好,且降低表面的台阶高度,高台阶引起的涂布异常和外观缺陷得以消除。

著录项

  • 公开/公告号CN101666979A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-03-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹NEC电子有限公司;

    申请/专利号CN200810043759.2

  • 发明设计人 何伟明;王雷;杨要华;

    申请日2008-09-03

  • 分类号G03F7/16;H01L21/027;

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人丁纪铁

  • 地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号

  • 入库时间 2023-12-17 23:35:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-04-18

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G03F7/16 公开日:20100310 申请日:20080903

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-04-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/16 申请日:20080903

    实质审查的生效

  • 2010-03-10

    公开

    公开

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