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安装在扫描探针显微镜中的原位微型单元大电流测量装置及电学测试方法

摘要

本发明属于纳米材料类超导性能及电学性能测量领域。一种安装在扫描探针显微镜中的原位微型单元大电流测量装置,包括样品平台、电路部分,其特征在于它还包括一个能放入扫描探针显微镜中的原位电学测量平台,其上设置一个支撑部分为绝缘衬底(4)的探针夹持器(3),探针夹持器(3)杠杆式安装在绝缘衬底(4)上,并通过连接电缆(2)外接可控电压源。本发明利用扫描探针显微镜原位实时记录待测微晶体功能材料在大功率电场作用下的电学性质以及电场诱发的微晶体结构状态变化,将微型单元的电学性质与微观结构变化直接对应起来,从纳米尺度上揭示微晶体功能材料的类超导大功率电学性质。

著录项

  • 公开/公告号CN101644728A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-02-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 吉林大学;

    申请/专利号CN200910066741.9

  • 发明设计人 崔玉明;胡士奇;

    申请日2009-04-02

  • 分类号G01R19/25;G01N13/10;

  • 代理机构长春吉大专利代理有限责任公司;

  • 代理人王寿珍

  • 地址 130012 吉林省长春市前进大街2699号

  • 入库时间 2023-12-17 23:27:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-06-20

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R19/25 公开日:20100210 申请日:20090402

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-04-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R19/25 申请日:20090402

    实质审查的生效

  • 2010-02-10

    公开

    公开

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