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用于光学捕获和材料检查的全息显微系统和方法

摘要

一种用于进行光学捕获的结构的三维全息显微术的方法和系统。该方法和系统使用倒置光学显微镜,使用产生捕获激光束的激光光源,其中该激光束被物镜聚焦成多个光陷阱。该方法和系统还使用成像波长上的准直激光器,照明由光陷阱建立的结构。由光学捕获的结构散射的成像光形成全息图,该全息图由视频摄像机成像并用光学形式体系进行分析,以确定光场,再现3-D像,供分析和评估。

著录项

  • 公开/公告号CN101632134A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 纽约大学;

    申请/专利号CN200880003125.2

  • 发明设计人 李相赫;D·G·格瑞尔;

    申请日2008-01-25

  • 分类号

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人蒋世迅

  • 地址 美国纽约

  • 入库时间 2023-12-17 23:22:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-23

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G21K1/00 申请公布日:20100120 申请日:20080125

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2010-03-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2010-01-20

    公开

    公开

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