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可消除零件定位误差的复杂回转体轮廓测量方法及装置

摘要

本发明属于测量仪器制造及测量技术领域,特别是一种可消除零件定位误差的复杂回转体轮廓测量方法及装置。本发明的装置包括由可发射平行光幕的发射器和高精度线阵CCD构成的接收器组成的第一测量头和第二测量头、回转工作台、基座、立式导轨和浮动架组成的立式导轨系统。被测回转体零件置于回转工作台上,第一测量头和第二测量头可随浮动架沿立式导轨上下运动,且第一测量头和第二测量头在被测回转体工件的两侧径向对称分布,测量头的测量范围大于被测回转体的半径变化量。使用该方法和装置测量复杂回转体时,能够有效地自动消除零件定位误差的影响,快速测量复杂回转体的轮廓尺寸和轮廓度误差。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-08-10

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B11/245 公开日:20100120 申请日:20090616

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-03-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2010-01-20

    公开

    公开

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