使用光学和电学测量方法检测分析物

摘要

本发明提供了一种用于检测分析物的方法，其中，所述分析物由与该分析物有关的一个或多个标记物进行标记，所述方法包括：a)在经标记的所述分析物上进行光学检测方法以便从所述一个或多个标记物获得光学数据；b)在经标记的所述分析物上进行电学检测方法以便从所述一个或多个标记物获得电学数据；和c)由所述光学数据和电学数据确定所述分析物的身份和/或数量。本发明还提供了一种用于检测多个分析物的方法，其中，各个不同的所述分析物由与该分析物有关的一个或多个不同标记物进行标记，所述方法包括：a)在多个经标记的分析物上进行光学检测方法以便从所述标记物获得光学数据；b)在所述多个经标记的分析物上进行电化学检测方法以便从所述标记物获得电学数据；和c)由所述光学数据和电学数据确定所述多个分析物的身份和/或数量。