一种具有相同游程长度的测试数据压缩编码、解码方法及专用解码单元

摘要

本发明涉及一种大规模集成电路测试数据压缩编码、解码方法及专用解码单元，属于集成电路测试技术领域。为了降低测试数据的存储容量，缩短测试应用时间，本发明公开了一种大规模集成电路测试数据压缩的编码方法，通过存储程序的计算机执行如下步骤：首先以位串为基本单元，对0和1两种类型的游程进行统计，将测试数据分割开来，统计位串的长度，再利用二种不同类型的编码方式对位串长度进行编码，使编码方式既考虑到变长码使用短的代码字来代替长的原始位串，又考虑游程之间的相关性，对于具有相同游程长度的连续游程的后续游程可以进一步用短的代码字来表示，实现数据的压缩；解码的方法是利用针对本压缩方法制作的解码单元来进行解压缩的。