首页> 中国专利> 多反射飞行时间质量分析器和包括该质量分析器的飞行时间质谱议

多反射飞行时间质量分析器和包括该质量分析器的飞行时间质谱议

摘要

本发明提供了一种多反射TOF质量分析器,具有两个平行无栅的离子反射镜,每个离子反射镜具有在漂移方向(Z)上伸长的结构。所述离子反射镜提供了由在与漂移方向(Z)正交的飞行方向(X)上离子的多次反射而形成的折叠的离子路径。所述分析器还具有另外的无栅离子反射镜,用于在所述漂移方向(Z)上反射离子。在操作中,由于离子沿所述折叠的离子路径具有不同的飞行时间而根据质荷比将离子在空间上分离,并且,相对于飞行方向和漂移方向,对具有实质上相同质荷比的离子进行能量聚焦。

著录项

  • 公开/公告号CN101523548A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-09-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社岛津制作所;

    申请/专利号CN200780038242.8

  • 发明设计人 迈克尔·苏达科夫;

    申请日2007-10-12

  • 分类号H01J49/40;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人王波波

  • 地址 日本京都府

  • 入库时间 2023-12-17 22:40:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-06-15

    授权

    授权

  • 2009-10-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-09-02

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号