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污染性评价方法、污染性评价装置、光学部件的制造方法、光学叠层体以及显示器产品

摘要

本发明提供可适用于各种部件、再现性高、可检测微妙的污迹差异的防污性定量的污染性评价方法、污染性评价装置、光学部件的制造方法、以及具有防指纹附着性、抗污染性、从污染的恢复度的光学叠层体、和具有该光学叠层体的显示器产品。本发明的染性评价方法对试验体照射光,检测在该试验体上反射或透射的散射光,评价上述试验体的表面的污染程度。

著录项

  • 公开/公告号CN101512323A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-08-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大日本印刷株式会社;

    申请/专利号CN200780033180.1

  • 发明设计人 伊藤洁;

    申请日2007-09-10

  • 分类号G01N21/94(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄纶伟

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2023-12-17 22:31:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-08-22

    授权

    授权

  • 2009-10-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-08-19

    公开

    公开

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