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测试托盘及具备该测试托盘的电子元件测试装置

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摘要

测试托盘TST具备可收容IC器件的多个插入件82和可游动地保持该插入件82的框架构件81，各插入件82以与测试托盘TST的主要面基本垂直的方向置放在框架构件82上，插入件82配置成沿与测试托盘TST的主要面基本垂直的方向叠置在框架构件81上。

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2011-11-23

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/26 公开日:20090819 申请日:20060915

发明专利申请公布后的视为撤回
2009-10-14

实质审查的生效

实质审查的生效
2009-08-19

公开

公开

1. 测试托盘及具备该测试托盘的电子元件测试装置 [P] . 中国专利： CN101512356A . 2009-08-19
2. 测试分选机用测试托盘移送装置及测试托盘移送方法 [P] . 中国专利： CN108405355B . 2021.03.09
3. TEST TRAY TRANSFERRING APPARATUS FOR A TEST HANDLER, TEST HANDLER, AND METHOD OF TRANSFERRING TEST TRAYS FOR A TEST HANDLER [P] . 美国专利： US2008203999A1 . 2008-08-28

机译：用于测试处理者的测试托盘转移装置，测试处理者以及用于测试处理者的转移测试托盘的方法
4. ELECTRONIC COMPONENT TESTING METHOD, INSERT, TRAY, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS [P] . 韩国专利： KR101156962B1 . 2012-06-20

机译：电子元件测试方法，插入物，托盘和电子元件测试装置
5. ELECTRONIC COMPONENT TESTING METHOD, INSERT, TRAY, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS [P] . 韩国专利： KR20110018426A . 2011-02-23

机译：电子元件测试方法，插入物，托盘和电子元件测试装置