法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-12-23
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N21/45 授权公告日:20101110 终止日期:20141104 申请日:20081104
专利权的终止
2012-08-29
专利权的转移 IPC(主分类):G01N21/45 变更前: 变更后: 登记生效日:20120723 申请日:20081104
专利申请权、专利权的转移
2010-11-10
授权
授权
2009-06-03
实质审查的生效
实质审查的生效
2009-04-08
公开
公开
技术领域
本发明是一种能够在线测量微电子机械系统(MEMS)薄膜应力梯度的方法,属于MEMS材料参数测量技术领域。
背景技术
MEMS技术的应用领域十分宽广,可以用在惯性测量、微流体、光学(光开关、显示器件等)、压力测量、RF器件等众多领域。
薄膜淀积是硅基MEMS(microelectro-mechanical systems)器件加工中的一项重要工艺步骤,但由于晶格失配,结构层与衬底材料热膨胀系数不同等不利因素,薄膜内部会产生残余应力以及厚度方向上的应力梯度。
应力梯度会引起薄膜变形,降低MEMS器件性能,过高的应力梯度甚至能造成薄膜破裂,损坏器件。而且,应力梯度会随着加工工艺条件的变化而改变。可见,精确地在线测量薄膜的应力梯度,对检测工艺的稳定性,MEMS器件性能都至关重要。
目前,在线测量应力梯度的常用结构有:悬臂梁结构、阿基米德螺线结构;常用方法有:静电吸合法、光学显微测量法等。
静电吸合法一般采用悬臂梁结构,通过测量其吸合电压来计算应力梯度。具有精度高,测量速度快,占用面积小等特点。但测量多次后,由于静电在悬臂梁上积累,吸合电压会改变,重复性不好,而且仅适用于导电材料。
光学显微测量法是通过测量测试结构在应力梯度作用下的形变,求解薄膜的应力梯度。若选择较宽的悬臂梁作测试结构,其宽度方向的挠度会影响测量精度;选用窄梁或阿基米德螺线结构,其宽度在刻蚀时无法精确控制,沿宽度方向的界面不是理想的矩形,这些对测量精度又会造成显著的误差。
发明内容
本发明目的在于解决上述问题,提供一种在线测量MEMS薄膜应力梯度的方法:用非接触的光学干涉测量法,测得由应力梯度作用引起的的中心固定圆膜边缘的离面高度,算出圆膜的曲率半径,进而求得薄膜的应力梯度。
本发明一种在线测量MEMS薄膜应力梯度的方法,操作步骤为:首先制备一个半径为r,厚度为h的圆形的中心带有锚区的薄膜,薄膜的锚区固定在平面衬底上,同时在薄膜附近的平面衬底上制作一个参考面,参考面与变形前的薄膜平面处于同一平面;
利用非接触干涉仪(例如相移型米劳干涉仪),以参考面为基准,测出薄膜边缘竖直方向因薄膜变形而产生的位移z0;
计算变形后薄膜的曲率半径R:
其中,y0是薄膜边缘的横向最大位移,由于y0,z0都远小于圆膜半径r,上试可简化为:
R=r2/(2z0)(2)
薄膜内部的残余应力σ可看作平均应力σ0(恒量)和沿厚度方向(z方向)变化的梯度应力σ1的迭加;将淀积薄膜的梯度应力σ1看作线性变化的,记为σ1(z);则应力梯度Γ=dσ1/dz就为一恒定值,残余应力σ就可表示为:
σ=σ0+σ1=σ0+σ1(z)=σ0+Γz (3)
残余应力会在薄膜内部产生一个弯矩,薄膜单位宽度上的弯矩M可表示为:
其中:z表示沿z方向。
由残余应力σ与薄膜应变ε的关系可得:
其中:E为薄膜材料的杨氏模量,v为泊松比。
那么,薄膜的内部弯矩又可以表示为:
两种形式表示的弯矩应该相等,则应力梯度:
上式的正确性已有CoventorWare软件验证。设薄膜杨氏模量和泊松比分别为:E=165Gpa,υ=0.23。中心固定圆膜的尺寸为r=100μm,h=3μm。依次在圆膜上施加Γ=10、11、12、13、14、15Mpa/μm这6个应力梯度。CoventorWare给出了圆膜纵向最大位移z0。由式(2)算出圆膜的曲率半径R,再由式(7)可求得薄膜的应力梯度Γ′结果见表1。
表1
本发明的优点:
1、由中心对称的中心固定圆膜作为测试结构,锚区接近理想固支,提高了模型精度。
2、圆膜的曲率半径只由应力梯度决定,而与圆膜的厚度、半径无关,可根据干涉仪的精度来选择圆膜的半径,从而减小测试结构占用芯片的面积。
3、采用非接触型的光学测量方法,测试过程不会影响测试结构,重复性好。
4、同时适用于带电材料和非导电材料薄膜应力梯度的测量。
附图说明
图1是牺牲层释放后,薄膜测试结构剖面示意图;
图2是薄膜厚度方向上残余应力等效示意图;
图3是中心固定的圆形薄膜测试结构的制作过程示意图;
具体实施方案
下面结合具体实例和附图,对本发明作进一步详细说明。
实施例:
如图3-1所示,在硅牺牲层MEMS工艺中,用LPCVD(低压化学气相淀积)法在单晶硅衬底1上淀积一层很薄的SiO2 2,再淀积一层0.2μm厚的氮化硅3,接着淀积一层2μm厚的磷硅玻璃作牺牲层4(图3-2),用KOH溶液在磷硅玻璃牺牲层4上刻蚀一个直径为4μm的圆形凹洞5用来做来锚区9,及一个圆环6用来作参考面10(两者距离略大于100μm)(图3-3),再用多晶硅淀积一层厚度h=1μm的薄膜作结构层7(图3-4),在结构层上以锚区中心为圆心,刻蚀一个半径r=50μm的圆形作为中心固定的圆形薄膜8,并将所述圆环部分的结构层的周围刻蚀成参考面(图3-5)。除去牺牲层(即用KOH溶液腐蚀掉磷硅玻璃)后,由于薄膜内部存在厚度方向上的应力梯度,圆形薄膜会发生形变。而参考面下面的牺牲层被结构层完全密封,所以在除去牺牲层的过程中,参考面下面的牺牲层不会被腐蚀掉(图3-6)。
多晶硅的杨氏模量和泊松比分别为:E=165GPa、υ=0.23,。
利用非接触相移型干涉仪,以参考面为基准,测出薄膜边缘竖直方向的位移z0,由式(2)计算出薄膜的曲率半径R,再根据式(7)算出薄膜的应力梯度Γ。非接触相移型干涉仪可选用Nikon公司的Mirau显微干涉仪,其视场范围690×460μm,离面测量的分辨力小于0.1nm。测量结果为:
z0=0.089μm,R=14044.94μm,Γ=15.2571MPa/μm。
机译: 薄膜过滤器,薄膜过滤器基板,薄膜过滤器制造方法,薄膜滤波基板制造方法,以及MEMS麦克风和MEMS麦克风制造方法。
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