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在多个标准化的测试仪器底盘之间提供精确的定时控制

摘要

通过在每个底盘内在PXI_LOCAL上提供若干控制信号,并将这些控制信号提供到其它底盘而获得多个例如PXI等标准化底盘上的精确定时控制。最小公倍数(Least Common Multiple,LCM)信号使得所有时钟能够具有在每个LCM边沿出现的一致的时钟边沿。启动序列允许测试系统中的所有PXI扩展卡同时启动。MATCH线路使得引脚卡模块能够检验预期的DUT输出,并根据所述DUT输出检验的结果继续执行它们的局部测试程序或环回并重复所述局部测试程序的一部分。测试结束(End Of Test,EOT)线路使得如果任一引脚卡模块中的局部测试程序检测到错误,则所述引脚卡模块便能够突然结束在所有其它引脚卡模块中运行的局部测试程序。

著录项

  • 公开/公告号CN101278205A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-10-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 爱德万测试株式会社;

    申请/专利号CN200680036314.0

  • 发明设计人 安夫尼·里;葛岚·戈麦斯;

    申请日2006-08-03

  • 分类号G01R31/319;

  • 代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人寿宁

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2023-12-17 20:53:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-09-21

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/319 公开日:20081001 申请日:20060803

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2008-11-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-10-01

    公开

    公开

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