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检查折射元件清洁状态的方法及近场型光学扫描装置

摘要

一种检测近场型光学扫描装置的折射元件的光出射面的清洁状态的方法,该方法包含下列步骤:产生近场控制信号,该近场控制信号与从折射元件的光出射面内部反射的光辐射束强度和对应的入射光辐射束强度之间的比率成比例;当折射元件的光出射面远离光盘超过近场距离时,测量近场控制信号;将测得的近场控制信号与预定阈值进行比较;如果测得的近场控制信号超过预定阈值,则将折射元件判断为清洁的。

著录项

  • 公开/公告号CN101263556A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 皇家飞利浦电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200680033374.7

  • 发明设计人 C·A·弗舒伦;

    申请日2006-09-08

  • 分类号G11B7/12;

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人李静岚

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2023-12-17 20:45:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-18

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G11B7/12 公开日:20080910 申请日:20060908

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2008-11-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-09-10

    公开

    公开

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