用于使用EM仿真来补偿RFIC的性能退化的方法

摘要

提供了一种用于使用EM仿真来补偿射频集成电路(RFIC)的性能退化的方法。该方法包括以下步骤：(a)提取RFIC的设计规范以设计和仿真电路；(b)设计所设计和仿真的电路的布局，并通过使用所设计的布局来提取布局参数；(c)简化布局并执行EM仿真以提取性能参数；(d)通过使用所提取的布局参数和性能参数来执行电路仿真，并判断电路仿真的结果是否满足RFIC的设计规范；(e)当判断电路仿真的结果满足RFIC的设计规范时，执行电路制造处理；以及(f)当判断电路仿真的结果不满足RFIC的设计规范时，部分地去除布局并执行EM仿真，从而分析并补偿性能退化区域。