公开/公告号CN101170653A
专利类型发明专利
公开/公告日2008-04-30
原文格式PDF
申请/专利权人 国际商业机器公司;
申请/专利号CN200710181841.7
发明设计人 瓦格蒂·W.·阿巴迪尔;
申请日2007-10-19
分类号
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;
代理人陈炜
地址 美国纽约
入库时间 2023-12-17 20:02:40
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2012-11-14
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H04N5/335 申请公布日:20080430 申请日:20071019
发明专利申请公布后的视为撤回
2008-06-25
实质审查的生效
实质审查的生效
2008-04-30
公开
公开
机译: 二维阵列X射线探测器中缺陷像素的检测方法及缺陷像素的检测装置
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