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一种有效降低LDNMOS截止电流并避免双峰特性的补偿注入方法及其应用

摘要

一种有效降低LDNMOS截止电流并避免双峰特性的补偿注入方法,在常规的光刻和离子注入工艺之外,使用了光刻技术产生一个特定的区域,该区域跨越LDNMOS的栅极与浅沟隔离的交接线,在该区域中进行与沟道电性相反的离子注入,降低了LDNMOS器件的截止电流,有效避免了LDNMOS器件的双峰特性。

著录项

  • 公开/公告号CN101106089A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-01-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200610028921.4

  • 发明设计人 梅奎;崔崟;郭兵;金起凖;程超;

    申请日2006-07-13

  • 分类号H01L21/336;H01L21/266;

  • 代理机构北京市金杜律师事务所;

  • 代理人李勇

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2023-12-17 19:37:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-07-29

    发明专利申请公布后的驳回

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2008-03-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-16

    公开

    公开

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