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一种原位表征金属薄膜氧化反应动力学规律的方法

摘要

本发明属于薄膜传质表征技术领域,具体涉及一种原位表征金属薄膜氧化反应动力学过程的方法。其特点是引入方块电阻法以建立适合原位表征纳米尺度膜氧化动力学过程的方法,以克服传统的动力学过程表征手段在运用于薄膜体系时的局限性,表征尺度在10nm及以上纳米尺寸范围。本发明对于给出纳米体系金属薄膜的扩散参量,揭示纳米尺度异常传质现象,具有重要的科学价值。

著录项

  • 公开/公告号CN1971262A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-05-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 复旦大学;

    申请/专利号CN200610119292.6

  • 发明设计人 蒋益明;罗宇峰;钟澄;李劲;

    申请日2006-12-07

  • 分类号G01N27/16;G01N31/00;

  • 代理机构上海正旦专利代理有限公司;

  • 代理人陆飞

  • 地址 200433 上海市邯郸路220号

  • 入库时间 2023-12-17 18:37:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-06-17

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-07-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-05-30

    公开

    公开

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