探棒同步化校正模块以及探棒同步化校正方法

摘要

一种探棒同步化校正模块及方法，此探棒同步化校正模块适于校正多个探棒的同步化，且其主要由示波器及校正治具所构成。其中，示波器用以显示各个探棒所量测到的信号波形，而校正治具具有一信号接脚以及多个探棒接脚，且这些探棒接脚的长度相同。在此，欲进行校正的探棒则分别耦接于示波器与这些探棒接脚之间。由于探棒接脚的长度相同，因此经由信号接脚所输入的信号同步传递至探棒，所以当示波器上所显示的信号波形不同步时，即通过示波器来调整探棒的延迟时间，以使各个探棒同步化，进而提高探棒的量测准确度。

说明书

【技术领域】

本发明是有关于一种校正模块与方法，且特别是有关于一种探棒同步化校正模块与方法。

【背景技术】

目前大多以主动式探棒来量测高频电路中的高频信号，并通过一探针而将主动式探棒耦接至待量测的信号输出端，以使信号经由主动式探棒而传递至一示波器，进而使示波器显示此高频信号的波形。

在量测信号的过程中，如欲进行信号之间的时序比较，则需将两支探棒分别耦接至两个待量测的信号输出端，以于示波器上分别显示出两个信号波形。然而，若用以量测信号的两支探棒异步传递信号，则会造成量测误差，导致示波器所显示的波形时序失真。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种探棒同步化校正模块及探棒同步化校正方法，以在多个探棒之间进行同步化校正，进而降低信号量测的时序误差。

本发明提出一种探棒同步化校正模块，其适于对多个探棒进行同步化校正。此探棒同步化校正模块主要由示波器及校正治具所构成，其中示波器用以耦接至各个探棒的一端，以接收并显示各个探棒所量测到的信号波形，而校正治具具有一信号接脚以及多个探棒接脚，且这些探棒接脚的长度相同，而这些探棒接脚则用以分别耦接至这些探棒的另一端。

在本发明的实施例中，上述的校正治具的探棒接脚例如是与信号接脚一体成型。而且，在一实施例中，校正治具的相邻的探棒接脚之间的夹角例如是与信号接脚及其相邻的探棒接脚之间的夹角相同，此夹角例如是120度。换言之，此校正治具例如是具有两支探棒接脚与一支信号接脚。

在本发明的实施例中，上述的校正治具的材质可以是高密度金属材质，其例如是铜、镍、银或铝。

本发明提出一种探棒同步化校正方法，其用以校正多个探棒间的同步化。此方法先提供上述的探棒同步化校正模块，接着通过此校正治具的信号接脚而输入信号，再将这些探棒分别耦接于示波器与校正治具的探棒接脚之间。此时，信号则经由这些探棒接脚而传递至这些探棒，进而在示波器上显示各探棒所量测到的信号波形。之后，依据这些信号波形而通过示波器调整这些探棒至少其中之一的延迟时间，以使各探棒同步化。

在本发明的实施例中，在将这些探棒分别耦接至这些探棒接脚之前，更包括分别校正这些探棒，以提高这些探棒的量测准确度。

在本发明的实施例中，通过校正治具的信号接脚而输入信号的方法包括将校正治具的信号接脚耦接至一信号输出端，而在一实施例中，此信号输出端例如是一高频信号输出端。

相较于现有技术，本发明将单一信号同步传递至多个探棒，因此量测者可依据示波器所显示的信号波形来调整这些探棒的延迟时间，而使这些探棒同步化，进而提高探棒的量测准确度。

【附图说明】

图1为本发明探棒同步化校正模块的示意图。

图2为本发明探棒同步化校正方法的步骤流程图。

【具体实施方式】

图1为本发明探棒同步化校正模块的示意图。请参照图1，探棒同步化校正模块100用以对多个探棒102进行同步化校正，而探棒同步化校正模块100主要由示波器110与校正治具120所构成。其中，示波器110用以接收各个探棒102所量测到的信号，并依据这些信号而显示出信号波形。

请继续参照图1，校正治具120具有一信号接脚122以及多个探棒接脚124，而待校正的探棒102即是耦接至示波器110与这些探棒接脚124之间。特别的是，这些探棒接脚124例如是与信号接脚122一体成型，以避免信号在校正治具120内传递时，因阻抗不匹配而产生信号反射等问题。在一实施例中，校正治具120的材质例如是高密度的金属材料，以便于传递高频信号。举例来说，校正治具120例如是由铜、镍、银或铝等高频宽的金属材料所构成。

这些探棒接脚124的长度均相同，且其例如是1公分，信号接脚122的长度则例如是2.5公分。而且，两相邻的探棒接脚124之间所夹的角度θ1例如是与信号接脚122及其相邻的探棒接脚124所夹的角度θ2相同。因此，当校正治具120的信号接脚122由一信号输出端(其例如是电路板130上的某一电子元件132)接收到信号之后，这些探棒接脚124分别将信号同步传递至其所耦接的探棒102。换言之，每个探棒102同时接收到校正治具120所传递的信号。

在量测过程中，一般使用两支探棒102来进行量测，因此本实施例仅以使用两支探棒102进行量测的情况为例作说明。也就是说，校正治具120例如是具有两支探棒接脚124，且这两支探棒接脚124之间的夹角θ1例如是120度，而每一支探棒接脚124与信号接脚122之间的夹角θ2也等于120度。然而，本发明并不限定校正治具120的探棒接脚124的数量，可自行依据欲同时校正的探棒数量来决定探棒接脚124的数量，并依据探棒接脚124的数量来调整夹角θ1与夹角θ2。

由上述可知，当这些探棒102同步传递信号时，示波器110显示多个同步的信号波形。反之，当这些探棒102未同步传递信号时，则示波器110所显示的这些信号波形之间具有一时序差。此时，可通过示波器110来调整各个探棒102传递信号的时序，以使各个探棒102同步传递信号。以下将举实施例说明本发明探棒同步化校正方法，但其并非用以限定本发明。

图2为本发明的探棒同步化校正方法的步骤流程图。请参照图2，在进行探棒的同步化校正之前，可以先分别对各个探棒进行校正，如步骤S200所述。举例来说，在步骤S200中例如是对各个探棒的频宽进行校正，以使其与欲量测的信号的频宽相符。

在对各个探棒校正完毕之后，即可开始探棒之间的同步化校正。请继续参照图2，首先提供一探棒同步化校正模块，如步骤S202所述。其中，步骤S202所提供的探棒同步化校正模块例如是图1所示的探棒同步化校正模块100。

请同时参照图1及图2，接着进行步骤S204，通过校正治具120的信号接脚122而输入信号，并将欲进行同步化校正的探棒102分别耦接至示波器110与校正治具120的探棒接脚124之间，而使探棒102与探棒接脚124一对一地耦接。其中，输入信号的方法例如是将校正治具120的信号接脚122耦接至一信号输出端，且其例如是耦接至一高频信号输出端。此时，信号经由探棒接脚124而传递至各个探棒102，再经由探棒102传递至示波器110，进而在示波器110上显示各个探棒102所量测到的信号波形。在步骤S204中还可以将示波器110的时间区间开到最大，以方便观察各个探棒102所量测到的信号波形。

承上所述，当示波器110所显示的信号波形不同步时，则进行步骤S206，以通过示波器110调整某支探棒102的延迟时间，进而使这些探棒102能够同步传递信号。较详细地来说，步骤S206例如是增加信号传递速度较快的探棒的延迟时间，或是减少信号传递速度较慢的探棒的延迟时间。此外，若示波器110所显示的信号波形为同步的信号波形时，则结束此同步化校正。

综上所述，由于本发明将单一信号同步传递至多个探棒，因此量测者可依据示波器所显示的信号波形来判断这些探棒是否同步传递信号。当这些探棒并未同步传递信号时，则可通过调整这些探棒的延迟时间，而使这些探棒同步化。由此可知，使用本发明的探棒同步化校正模块可精准地对探棒进行同步化校正，以提高探棒的量测准确度，进而降低量测误差。

而且，本发明可应用在各种探棒的同步化校正过程中，特别是应用在用来量测高频信号的主动式探棒的同步化校正，以使主动式探棒可准确地量测到各个高频信号，以便于操作者比较这些高频信号的时序。

此外，本发明的校正治具亦具有制作简单、成本低、携带方便、拆装容易且适于校正各种探棒的优点。