具有用于测量内部存储器宏的AC特性的测试电路的集成电路装置

摘要

一种集成电路装置包括：存储器宏，用于在正常操作期间响应于控制脉冲而锁存输入地址，并产生与输入地址相对应的数据输出；以及测试控制电路(22)，用于在测试期间执行对存储器宏的特性测试。一个或更多个存储器宏单元(RMU1、RMU2、RMU3)分别具有：脉冲发生电路，用于在测试期间响应于输入脉冲而产生用于测试的控制脉冲；以及存储器宏，其被连接以形成环形振荡器，并且该测试控制电路测量环形振荡器的振荡频率或周期。当存储器宏的数据输出被提供给后续级的脉冲发生电路以产生控制脉冲时，环形振荡器进行振荡。振荡周期被划分为预定数量的级，去除脉冲发生电路的延迟，由此高精确度地测量存储器宏的访问时间。