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非挥发性存储器、非挥发性存储器阵列及其制造方法

摘要

一种非挥发性存储器,由基底、多个堆栈栅极结构、间隙壁、多个控制栅极、多个浮置栅极、栅间介电层、穿隧介电层与源极区/漏极区所构成。各堆栈栅极结构从基底起依序为选择栅极介电层、选择栅极与顶盖层。间隙壁位于堆栈栅极结构侧壁。控制栅极位于基底上,填满堆栈栅极结构之间的间隙,且彼此连接在一起。浮置栅极位于堆栈栅极结构之间,且位于控制栅极与基底之间。栅间介电层位于控制栅极与浮置栅极之间。穿隧介电层位于浮置栅极与基底之间。源极区/漏极区分别位于最外侧的两堆栈栅极结构一侧的基底中。

著录项

  • 公开/公告号CN1770455A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 力晶半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN200410092213.8

  • 发明设计人 许正源;洪至伟;宋达;

    申请日2004-11-03

  • 分类号H01L27/10;H01L27/115;H01L21/8239;H01L21/8247;G11C11/34;G11C16/02;

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陶凤波

  • 地址 台湾省新竹市

  • 入库时间 2023-12-17 17:16:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-01-13

    专利权的视为放弃

    专利权的视为放弃

  • 2006-07-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-05-10

    公开

    公开

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