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形成具有小接触面积的相变存储器件的方法

摘要

提供制造具有小接触面积的相变存储器件的方法。该方法包括在半导体衬底上形成下层间绝缘层,以及在下层间绝缘层内形成下导体图形。在具有下导体图形的半导体衬底上形成第一绝缘层图形,第一绝缘层图形横穿下导体图形的顶表面。在第一绝缘层图形的侧壁上形成电连接到下导体图形的导电隔片图形。在具有导电隔片图形的半导体衬底上形成第一层间绝缘层。第一层间绝缘层和导电隔片图形被平整,以形成底电极。在具有底电极的半导体衬底上形成第二绝缘层图形,第二绝缘层图形横穿底电极的顶表面并露出部分底电极。在第二绝缘层图形的侧壁上形成电连接到底电极的相变材料隔片。在具有相变材料隔片的半导体衬底上形成第二层间绝缘层。第二层间绝缘层和相变材料隔片被平整,以形成相变材料图形。

著录项

  • 公开/公告号CN1763986A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200510096679.X

  • 发明设计人 高宽协;

    申请日2005-08-31

  • 分类号H01L45/00(20060101);H01L21/768(20060101);

  • 代理机构11219 中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人林宇清;谢丽娜

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2023-12-17 17:12:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-06-17

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2006-06-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-04-26

    公开

    公开

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