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检测脑炎或脑疾发病风险的方法

摘要

本发明提供了一种检测脑炎/脑疾发病及其风险的方法;一种判断药物的施用或应用是否安全(是否具有诱导流感脑炎/脑疾风险)的方法;和一种用于筛选可用在脑炎/脑疾治疗中的药物的方法。检测方法包括制备获自疑似脑炎/脑疾发病的病人的含电压依赖的阴离子通道(VDAC)的样品,检测样品中VDAC的表达水平,并以所述表达水平的升高作为指标检测脑炎/脑疾的发病和发病敏感性(发病风险)。

著录项

  • 公开/公告号CN1756957A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-04-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 木户博;

    申请/专利号CN200480005556.4

  • 发明设计人 木户博;

    申请日2004-02-27

  • 分类号G01N33/50;G01N33/15;G01N33/53;G01N33/566;

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人杨青

  • 地址 日本德岛县

  • 入库时间 2023-12-17 17:12:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-10-25

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2006-04-05

    公开

    公开

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