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基于两种不同X射线频谱的成像方法

摘要

本发明涉及对检查对象、特别是患者(P)进行成像检查的方法。其中,首先给检查对象注射造影剂(KM)。然后至少确定两个X射线衰减值的空间分布,这些空间分布分别表示局部X射线衰减系数(μ(x,y))或与其线性相关的量(C)。该两个空间分布至少包括:基于第一X射线频谱确定的第一衰减值分布(μ1(x,y));基于与第一X射线频谱不同的第二X射线频谱确定的第二衰减值分布(μ2(x,y))。通过对两个衰减值空间分布的分析,确定一个或多个预定的原子序数值(Z;Z1,Z2,···)的空间分布,或确定包含关于造影剂(KM)在检查对象体内分布信息的、未预定义的检查对象中现有的原子序数值的空间分布(Z(x,y))。将原子序数空间分布用于图像中的造影剂(KM)显示。

著录项

  • 公开/公告号CN1705457A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN200480001240.8

  • 发明设计人 比约恩·海斯曼;

    申请日2004-03-02

  • 分类号A61B6/03;

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人马莹;邵亚丽

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2023-12-17 16:46:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-11-26

    发明专利申请公布后的驳回

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2006-02-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-12-07

    公开

    公开

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