用于在记录介质中适当地分配备用区的方法和装置以及一种具有使用其分配的备用区的记录介质

摘要

一种用于对记录介质分配备用区的方法和装置，及其一种记录介质。该方法包括：根据第一记录操作将数据记录在记录介质的数据区中；根据包含在所记录的数据中的缺陷来创建关于所调整的备用区尺寸的信息；将关于备用区的信息和关于根据第一记录操作所记录的数据中的缺陷的信息作为第一临时缺陷信息记录在数据区中；和将用于管理第一临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第一临时缺陷管理信息记录在其存在于记录介质的导入区、导出区和外部区中的至少一个中的临时缺陷管理信息区中。

说明书

                          技术领域

本发明涉及将备用区分配给记录介质，更具体地讲，涉及一种用于给记录介质分配备用区以用于缺陷管理的方法和装置，及其一种记录介质。

                          背景技术

通常，为了缺陷管理的目的，备用区被分配给记录介质的数据区。备用区的分配使得数据区被分成用户数据区和备用区。备用区是被保留以当缺陷在数据区发生时而使用的记录介质的区域。当缺陷发生时，用户数据能够被记录在备用区中，从而使用户数据能够被完全地记录到记录介质中。

通常，在记录介质中，备用区的分配在初始化期间被执行。备用区与数据区的比根据记录介质的缺陷比、将被记录的数据的特征、数据区的尺寸等来被确定。

然而，当缺陷比预期更频繁地发生时，在用户数据区完成数据记录之前，备用区可能被整个地充满数据。备用区的用尽防止缺陷管理在用户数据区的剩余部分被执行。相反，当缺陷比预期低的频率发生时，备用区的大部分可能被剩下而不被使用。在前面的情况下，与数据区相联系的备用区的尺寸结果是过小的，而在后面的情况下，备用区的尺寸结果是过大的。对于这两种情况，数据区都没有被有效地使用。

缺陷管理能够被定义为将其中检测出缺陷的一部分用户数据区的用户数据重写在记录介质的新的一部分数据区中，从而补偿由缺陷引起数据中的丢失。通常，使用线性替换或滑移替换来执行缺陷管理。在线性替换中，用没有缺陷的备用区来替换在其中存在缺陷的用户数据区。在滑移替换中，记录在具有缺陷的用户数据区中的用户数据被滑移过以被记录在没有缺陷的下一用户数据区中。

线性替换和滑移替换都仅仅适用于数据能够被重复地记录在其上并且使用随机存取的方法在其中能够执行记录的如DVD-RAM/RW的记录介质。难于将线性替换和滑移替换应用到在其中仅仅允许一次记录的一次写入记录介质上。通常，不论数据是否能够被记录在记录介质上，根据记录的数据，通过将数据记录在记录介质上并且证实来检测缺陷在记录介质中的存在。然而，一旦数据被记录在一次写入记录介质上，就不可能重写新的数据并且管理其中的缺陷。

同时，在CD-R和DVD-R的发展后面，高密度一次写入记录介质已经被引入，高密度一次写入记录介质具有几十个十亿字节(GB)的记录容量。因为这些记录介质并不昂贵并且允许使快速读取操作成为可能的随机存取，所以这些记录介质能够被用作备份记录介质。然而，缺陷管理并不适用于一次写入记录介质。因此，因为在一次写入记录介质上不执行缺陷管理，所以当缺陷区，即在其中发生缺陷的区域在备份操作期间被检测出时，备份操作被中断。通常，当系统不被频繁地使用时，如在系统管理员不操作系统的晚上时，备份操作被执行。在这种情况下，更可能的是当一次写入记录介质的缺陷区被检测出时，备份操作被停止。

                          发明内容

本发明提供一种根据记录介质中缺陷的发生率来更有效地对记录介质分配备用区的方法和装置，从而实现数据区的有效的使用，以及一种具有使用这些方法和装置来在其上分配备用区的记录介质。

本发明还提供一种根据记录介质中缺陷的发生率来对一次写入记录介质分配备用区的方法和装置，从而实现数据区的有效的使用，以及一种具有使用这些方法和装置来在其上分配备用区的记录介质。

将在接下来的描述中部分阐述本发明另外的方面和/或优点，还有一部分通过描述将是清楚的，或者可以经过本发明的实施而得知。

根据本发明的一方面，提供了一种对记录介质分配备用区的方法，包括：根据第一记录操作将数据记录在记录介质的数据区中；根据在第一记录操作期间在所记录的数据中检测出的缺陷来创建关于记录介质的所分配的备用区的尺寸的调整的信息；将关于备用区的尺寸的调整的信息、和关于根据第一记录操作所记录的数据中的缺陷的信息作为第一临时缺陷信息记录在记录介质的数据区中；和将缺陷管理信息记录到记录介质，以用于将第一临时缺陷信息作为第一临时缺陷管理信息在记录介质的导入区、导出区和外部区中的至少一个中的记录介质的临时缺陷管理信息区中管理。

可以重复在数据区中数据的另一次记录、另一备用区尺寸的调整信息的记录、另外的缺陷信息的记录、和在记录介质上进行缺陷管理信息的记录，并且创建关于另外调整的备用区尺寸的信息，同时将另一记录操作、另一临时缺陷信息区和临时缺陷管理信息的索引加1，以及将最后所记录的临时缺陷管理信息和临时缺陷信息记录在记录介质的导入区、导出区和外部区中的至少一个中的记录介质的缺陷管理区(DMA)中。

创建关于所分配的备用区的尺寸的调整的信息的步骤可以包括：计算缺陷的发生率；和根据所计算的发生率来创建关于所分配的备用区的尺寸的调整的信息。根据所计算的发生率来创建关于所分配的备用区的尺寸的调整的信息的步骤可使用缺陷的发生率和所分配的备用区的尺寸的调整，或者缺陷的发生率和备用区的可能位置在其中被映射的映射表。

根据第一记录操作将数据记录在记录介质的数据区中的步骤可包括：将数据以数据的预定单位记录在记录介质上；验证所记录的数据以检测在其中发生缺陷的所记录的数据的区域；将指定具有缺陷的区域和在其中数据被记录在具有缺陷的区域后面的随后的区域为缺陷区的信息存储在存储器中；以预定的单位，在缺陷区后面将数据记录在记录介质上；并且记录所分配的备用区的尺寸的调整和缺陷信息包括：从存储器中读出第一临时缺陷信息；和将所读出的第一临时缺陷信息记录在记录介质上的数据区的第一临时缺陷信息区中。

根据本发明的另一方面，提供一种记录或记录和再现装置，其包括：记录/读出单元，用于将数据记录在记录介质上和/或从记录介质读出数据；和控制器，用于控制记录/读出单元以根据第一记录操作将关于在记录介质的数据区中所记录的数据中的缺陷的信息作为第一临时缺陷信息记录在数据区中，以根据缺陷来调整记录介质的备用区的尺寸，并且用于控制记录/读出单元来将关于备用区的尺寸的调整的信息记录在第一临时缺陷管理信息区中，以及用于控制记录/读出单元以将用于管理第一临时缺陷信息区的缺陷管理信息作为第一临时缺陷管理信息记录在记录介质的导入区和导出区的至少一个中的记录介质上的临时缺陷管理信息区中。

控制器可以控制记录/读出单元以将数据记录在数据区，同时将另一记录操作、另一临时缺陷信息和另一临时缺陷管理信息的索引加1，并且控制记录/读出单元以将最后所记录的临时缺陷管理信息和临时缺陷信息记录在记录介质的导入区和导出区的至少一个中的记录介质上的缺陷管理区中。

控制器可以计算根据第一记录操作所记录的数据中的缺陷的发生率，并且根据所计算的发生率来调整所分配的备用区的尺寸的调整。

控制器可以控制记录单元来根据预定的记录操作以预定的数据单位记录数据，验证所记录的数据以检测所记录的数据中的缺陷，创建用于将具有缺陷的记录介质的区域和记录在具有缺陷的区域后面的数据指定为缺陷区的缺陷区信息，；并且将缺陷区信息作为第i临时缺陷信息存储在存储器中，控制记录单元来根据预定的记录操作在缺陷区后面以数据的预定单位记录数据，以及控制记录/读出单元以在根据预定的记录操作完成数据的记录后从存储器中读出第i临时缺陷信息，并且将所读出的数据记录在记录介质上的数据区的第i临时缺陷信息区中。

根据本发明的另一方面，提供一种具有在其中导入区、数据区和导出区被顺序地形成的单记录层的一次写入记录介质，，该记录介质包括：缺陷管理区，其在该记录介质上，在导入区和导出区的至少一个中；和临时缺陷管理信息区，其存在于导入区和导出区的至少一个中，并且关于备用区的信息被记录在其中以实现记录介质的缺陷管理。

                         附图说明

参照附图，通过详细地描述其实施例，本发明的以上和/或其它方面和优点将会变得更加清楚，其中：

图1是根据本发明实施例的记录装置的方框图；

图2A和2B示出根据本发明实施例的记录介质的结构；

图3示出图2A和2B中所示的记录介质的结构；

图4是示出根据本发明实施例的记录操作的详细图解；

图5是示出在备用区和备用区信息之间的关系的图解；

图6A和6B示出根据本发明实施例的临时缺陷信息#1和#2的数据结构；

图7示出根据本发明实施例的备用区的数据结构；

图8示出根据本发明另一实施例的备用区的数据结构；和

图9示出根据本发明实施例的用于给记录介质分配备用区的方法的流程图。

                      具体实施方式

现在将参照附图来更全面地描述本发明，其附图中，显示了本发明的实施例。

图1是根据本发明实施例的记录装置的方框图。参照图1，该记录装置包括记录/读取单元1、控制器2和存储器3。记录/读取单元1将数据记录在记录介质100上，如光盘上，并且从记录介质100读取数据以验证所记录的数据的准确性。控制器2执行缺陷管理，并且根据缺陷的发生率来给记录介质100分配备用区。例如，控制器2当缺陷的发生率大于预定的阈值时增加记录介质100中的备用区的尺寸，并且当发生率小于预定的阈值时，降低备用区的尺寸。关于所调整的备用区的尺寸的信息被记录在记录介质100的临时缺陷信息区中，下面将更详细地解释。这里，不存在关于预定的阈值的范围的限制。然而，预定的阈值通常根据缺陷的一般的发生率来被适当地确定。

在本实施例中，控制器2使用写入后验证(verify-after-write)的方法。即，控制器2控制记录/读取单元1以预定的单位来记录数据并且验证所记录的数据的准确性。接下来，控制器2创建指示记录介质100的缺陷区的位置的缺陷信息并将其存储在存储器3中。每当缺陷信息被创建时，新的缺陷信息被存储在存储器3中。当缺陷信息的量达到了预定的水平时，控制器2将缺陷信息作为临时缺陷信息记录在记录介质100上。控制器2计算缺陷的发生率并且根据计算出的发生率来调整备用区的尺寸。关于所调整的备用区的尺寸的信息被加给缺陷信息以用于在记录介质100的临时缺陷信息区中记录。临时缺陷信息和用于管理备用区信息的管理信息作为临行缺陷管理信息被记录在记录介质100上。

在本实施例中，所调整的备用区的尺寸以记录操作为单位被周期性地记录。因此，备用区信息以及临时缺陷信息以记录操作为单位被周期性地记录。通常，记录操作是根据用户意向来确定的一单位的工作或者是将被执行的记录工作。根据本实施例，记录操作表示记录介质100被装入记录装置、数据被记录在记录介质100上和记录介质100从记录装置中取出的这样一种过程。在记录操作执行几次期间，通常数据被记录并验证至少一次。在写入后验证的方法后面所获得的信息作为临时缺陷信息被存储在存储器3中。

当用户为了在记录数据后面取出记录介质100而按下记录装置的弹出按钮(未示出)时，控制器2期望记录操作被终止。然后，控制器2根据存储在存储器3中的临时缺陷信息来调整备用区的大小。此外，控制器2控制备用区信息和临时缺陷信息以及用于管理临时缺陷信息的管理信息以作为临时缺陷管理信息被记录在记录介质100上。

如果将数据记录在记录介质100上被完成，那么没有更多的数据将被记录在记录介质100上，即，记录介质100将被最终确定，并且控制器2将临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在记录介质100的缺陷管理区(DMA)中。

图2A和2B示出根据本发明实施例的图1的记录介质100的结构。具体地，图2A示出具有记录层L0的单记录层记录介质的记录介质100。记录介质100包括导入区、数据区和导出区。导入区位于记录介质100的内径向部分，并且导出区位于记录介质100的外径向部分。数据区存在于导入区和导出区之间，并且被分成用户数据区和备用区，用户数据区是用户数据被记录在其中的区域。

根据本发明的实施例，因为备用区的尺寸能够根据记录介质100中的缺陷的发生率来被调整，所以该尺寸是可变的。备用区替换具有缺陷的用户数据区以确保由于缺陷被记录到用户数据区的数据不被丢失。最好，备用区最初达到记录介质100的整个数据容量的大约5％，从而，更多的数据能够被记录在记录介质100上。此外，最好，备用区位于记录介质100的记录区的一端。特别地，在一次写入记录介质的情况下，备用区必须位于记录介质的记录区的一端，从而当备用区数据被记录时，滑移替换从记录介质100的内径向部分开始向着外径向部分被执行。

图2B示出作为具有两个记录层L0和L1的双记录层记录介质的记录介质100。导入区、数据区和外部区顺序地从第一记录层L0的内径向部分到外径向部分形成。此外，外部区、数据区和导出区顺序地从第二记录层L1的外径向部分到内径向部分形成。与图2A的单记录层记录介质不同，图2B中的记录介质100的导出区出现在记录介质100的内径向部分。即，图2B的记录介质100具有相反轨道路径(OTP)，在该相反轨道路径中，数据从第一记录层L0的导入区开始朝向外部区，并且继续从第二记录层L1的外部区到导出区被记录。各个备用区被分配在第一记录层L0和第二记录层L1中。在图2B的记录介质100中，备用区沿着记录方向被分配在记录介质100的每一记录层的一端，从而当滑移替换沿着OTP被执行时，它们的尺寸在数据被记录的同时能够被改变。

图3示出根据本发明的另一实施例的图2A和2B中所示的记录介质100的结构的示例。参照图3，DMA存在于记录介质100的导入区、导出区和外部区的至少一个中。此外，临时缺陷管理区在导入区和导出区的至少一个中形成。在每个记录操作期间，临时缺陷信息在数据区中被形成，并且备用区的尺寸被调整并且被再分配。

通常，关于管理记录介质100中的缺陷的信息被记录在DMA中。例如，这种信息包括用于缺陷管理的记录介质100的结构、缺陷信息的位置、缺陷管理是否被执行，和备用区的位置和尺寸。在一次写入记录介质的情况下，当先前记录的数据改变时新的数据被记录在先前记录的数据后面。通常，当记录介质被装入记录或记录和再现装置时，该装置从记录介质的导入区和导出区读出数据，以确定如何管理记录介质并且如何将数据记录到记录介质中或者从记录介质中读出数据。然而，如果记录在导入区的数据量增加，那么在装入该记录介质后，更多的时间将被花费在准备数据的记录或者再现上。因此，本发明的实施例利用临时缺陷管理信息和临时缺陷信息。即，只有比临时缺陷信息更加重要的临时缺陷管理信息被记录在导入区中，并且临时缺陷信息被记录在数据区中。关于备用区的信息被记录在临时缺陷信息区中。

最好，新信息被加到临时缺陷信息中的先前被记录的信息中，从而所有记录的信息在其中累积。记录/再现装置读出最后记录的临时缺陷信息以识别整个记录介质的缺陷。因此，关于最后记录的临时缺陷信息的位置的信息被记录在临时缺陷管理信息被记录在其中的临时缺陷管理信息区中。

更具体地讲，关于在记录的数据中发生的缺陷的信息、和关于在记录操作#1期间调整的备用区的尺寸的信息被记录在临时缺陷信息区#1中。此外，关于在记录操作#2期间发生的缺陷的信息、和关于在记录操作#2期间调整的备用区的尺寸的信息被记录在临时缺陷信息区#2中。用于管理临时缺陷信息区#1、#2、…、#i的缺陷管理信息被记录在临时缺陷管理信息区中，i是整数。如果没有更多的数据能够被记录在记录介质100上或者用户不想将任何更多的数据记录在记录介质100上，那么记录介质100需要被最终确定，并且记录在临时缺陷信息区中的临时缺陷信息、和记录在临时缺陷管理信息区中的临时缺陷管理信息被记录在DMA中。关于备用区的信息的记录是可选择的。

现在将解释将临时缺陷管理信息和临时缺陷信息记录在DMA中的原因。当没有更多的数据将被记录在记录介质100上，并且记录介质100需要被最终确定时，被更新了几次的临时缺陷管理信息、和记录在数据区的临时缺陷信息被记录在导入区的DMA中，从而使记录在记录介质100中的信息的快速读取成为可能。此外，还可以通过将缺陷管理信息记录在多个区域中来提高所记录的信息的再现的可靠性。

在本实施例中，记录在临时缺陷信息区#0至#i-1中的缺陷信息被重复地记录在顺序的临时缺陷信息区中。因此，在记录介质100的最终确定期间，足以从最后的临时缺陷信息区读出缺陷信息并且将所读出的信息记录在DMA中。同时，因为只有最近更新的备用区信息是可用的，所以最好不要将记录在前面的临时缺陷信息区#1、#2、#3、…、和#i-1中的备用区信息记录在临时缺陷信息区#i中。

在如高密度蓝光光盘的具有几十个GB的记录容量的高密度记录介质的情况下，期望被记录在临时缺陷管理信息区并相应于临时缺陷信息区#i的大量的临时缺陷管理信息#i被分配大约1簇，临时缺陷信息区#i的尺寸被设置为4到8簇。这是因为尽管记录在临时缺陷信息区#i的信息量仅仅是大约几KB，然而当最小的物理记录单位是簇时，最好以簇为单位来记录新信息以更新信息。同时，最好在记录介质中所允许的缺陷的总量是记录介质记录容量的大约百分之五。例如，考虑到关于缺陷的信息假定大约为8字节，并且簇的尺寸大约为64KB，需要大约4-8簇以记录临时缺陷信息#i。

在临时缺陷信息区#i和临时缺陷管理信息#i中能够执行写入后验证的方法。当缺陷被检测出时，信息再次被记录在邻近的区域中。

图4是示出根据本发明实施例的记录操作的详细的图解。

在由图4所表示的实施例中，数据可以以扇区或簇为单位来被处理。扇区表示以计算机的文件系统或应用程序来管理的数据的最小单元，并且簇表示能够一次被物理地记录在记录介质上的数据的最小单元。通常，一个或更多个扇区组成一个簇。

存在两种类型的扇区：物理扇区和逻辑扇区。物理扇区是在其中一扇区的数据可以被记录在记录介质上的区域。用于检测无论扇区的地址被称作为物理扇区号(PSN)。逻辑扇区是用于以记录在记录介质上的物理扇区中的文件系统或应用程序来管理数据的扇区单元，并且用于检测逻辑扇区的地址被称作为逻辑扇区号(LSN)。记录/再现装置使用PSN来检测将被记录在记录介质上的数据的位置。整个数据以将数据记录在记录介质上的计算机或应用程序中的LSN为单位来被管理，即，将被记录的数据的位置使用LSN来被检测。LSN和PSN之间的关系根据记录介质是否包含缺陷、缺陷出现的位置、以及记录数据的初始位置的物理扇区号来由记录/再现装置的控制器控制。

参照图4，A表示其中PSN已经以升序被分配给多个扇区(未示出)的数据区。通常，每个LSN相应于至少一个PSN。然而，因为除了缺陷扇区之外，LSN以升序被分配给扇区，所以即使物理扇区的尺寸与逻辑扇区的尺寸相同，当记录介质具有缺陷区时，各个PSN和LSN之间的相应也不被维持。

在图4中，数据单元区段①至⑨表示一系列记录的数据单元，在每一记录后相应的验证被执行。详细地，记录装置将用户数据记录在区段①中，返回到区段①的开始，并且开始检查用户数据是否已经被正确地记录或者缺陷是否已经发生。如果缺陷被检测出，那么在区段①中包含缺陷和在缺陷后面被记录在缺陷后面的数据的区域被指定为缺陷区#1。接下来，记录装置将用户数据记录在区段②中，返回到区段②的开始，并且检查用户数据是否被正确地记录或者缺陷是否已经发生。如果缺陷被检测出，那么在区段②中包含缺陷和被记录在缺陷后面的数据的区域被指定为缺陷区#2。同样地，缺陷区#3在区段③中被指定。然而，因为在区段④中没有检测出缺陷，所以在区段④中没有指定缺陷区。

因为根据本发明实施例的记录介质100是一次写入记录介质，所以期望记录在具有缺陷的区域后面的数据不被使用，并且包括记录在缺陷后面的数据的区域以及包含缺陷的区域被指定为缺陷区。假定LSNi被分配给在其中数据被记录在具有缺陷的区域后面的区域，为了使用该数据，在其中数据被记录在具有LSNi的区域后面的区域必须被表示为i-1以用于数据再现。然而，如果存在LSN没有以升序分配给其的区段，那么不容易管理逻辑扇区。因此，在本实施例中，在缺陷区后面的所有的数据区也被当作缺陷区，从而提高了管理逻辑扇区的效率。

在对区段④的数据的记录并验证后面，当记录操作#1被期望结束时，即当用户接下记录装置的弹出按钮或者在记录操作#1期间用户数据的记录被完成时，备用区的尺寸根据先前检测出的缺陷的数量来被重新调整。关于在区段①至④发生的缺陷#1至#3的信息和备用区信息被记录在临时缺陷信息区#1中。因此，临时缺陷信息区#1包含用于记录操作#1的缺陷区的信息、和关于所调整的备用区尺寸的信息。此外，当记录操作被期望结束时，考虑到在区段⑥-⑧发生的缺陷，备用区的尺寸也被重新调整。临时缺陷信息#2包含对记录操作#2的缺陷区的信息、记录在临时缺陷信息区#1中的信息以及备用区信息。

图5是示出备用区和备用区信息之间的关系的图解。参照图5，例如，备用区信息被记录在临时缺陷信息区#1和#2中。当记录操作#1被预期望结束时，备用区的尺寸被调整，并且关于所调整的备用区尺寸的信息被记录在临时缺陷信息区#1中。记录在临时缺陷信息区#1中的备用区信息包含关于其尺寸被调整的备用区的信息。相似地，记录在临时缺陷信息区#2中的备用区信息包含关于其尺寸再次被调整的备用区的信息。在记录操作#2终止后，备用区信息被更新并且被记录在临时缺陷信息区#2中。

图6A和6B示出根据本发明实施例的临时缺陷信息#1和#2的数据结构。参照图6A，临时缺陷信息#1包含关于缺陷#1至#3的信息。关于缺陷#1的信息描述了缺陷#1的位置，关于缺陷#2的信息描述了缺陷#2的位置，并且关于缺陷#3的信息描述了缺陷#3的位置。

关于临时缺陷信息#1的信息还被包含在临时缺陷信息#1中。关于临时缺陷信息#1的信息包括临时缺陷信息#1的位置。然而，临时缺陷信息#1不包含用户数据，因此，在用户数据的再现期间，其不被再现为用户数据。即，对于用户数据的再现，因为用户数据不被包含在其中，所以区别缺陷区#i和临时缺陷信息#1是毫无意义的。总之，临时缺陷信息#1包含关于其位置的信息，即，关于临时缺陷信息#1的信息，因此能够被用作有用的信息，例如用于表示该信息是临时缺陷信息，并不是用户数据。

另外，关于备用区的信息被包含在临时缺陷信息#1中。关于备用区的信息提供关于在记录操作#1终止后面设置的备用区的信息，使记录装置能够检测用于记录操作#2的备用区的位置和尺寸。

参照图6B，除了包含在临时缺陷信息#1中的信息之外，临时缺陷信息#2包含关于缺陷#4和#5的信息。因为与临时缺陷信息#1中相同的原因，临时缺陷信息#2也包含指示临时缺陷信息#2的位置的关于临时缺陷信息#2的信息。此外，备用区信息也被包含在临时缺陷信息#2中。关于备用区的信息提供在记录操作#2的终止后面设置的备用区的信息，使记录装置能够检测用于下一记录操作的备用区的位置和尺寸。

在本实施例中，关于缺陷#i的信息包括关于缺陷#i的开始位置和结束位置以及状态的如状态信息的信息。通常，状态信息被理解为指示本区域是缺陷区还是临时缺陷信息被记录在其中的区域的标志信息。在关于缺陷#i的信息中，状态信息是指示本区域是缺陷区的标志信息。关于开始位置的信息表示本区域的开始，即缺陷#i的开始。关于结束位置的信息表示本区域的结束，即缺陷#i的结束。关于临时缺陷信息#i的信息还包括关于临时缺陷信息#i的状态以及开始和结束位置的信息。通常，状态信息被理解为指示本区域是在其中发生缺陷的缺陷区还是临时缺陷信息被记录在其中的区域的标志信息。在关于临时缺陷信息#i的信息中，状态信息是指示本区域是临时缺陷信息被记录在其中的区域而不是缺陷区的标志信息。

图7示出根据本发明实施例的备用区的数据结构。图8示出根据本发明的另一实施例的备用区的数据结构。

参照图7，备用区信息指示备用区的开始位置。开始位置能够用PSN来表示。参照图8，备用区信息指示备用区的尺寸。在本实施例中，因为备用区的结束位置是固定的，所以可以根据关于备用区的尺寸的信息来容易地检测备用区的开始位置。

图9是示出根据本发明实施例的在记录介质中分配备用区的方法的流程图。参照图9，在操作901中，记录装置在根据第一记录操作被记录在记录介质上的数据区中创建关于缺陷的信息，以管理在记录介质中发生的缺陷。在操作902中，缺陷的发生率基于根据第一记录操作被记录的数据中的缺陷来被计算，并且备用区的尺寸根据所计算的发生率来被调整。这里，记录装置可包括映射表，在该映射表中，关于相应于缺陷的几个发生率的备用区的尺寸(或位置)的信息被映射以用于备用区尺寸的调整。在操作903中，记录装置将关于所调整的备用区尺寸的信息以及在操作901中创建的缺陷信息记录在第一临时缺陷信息区中。在操作904中，记录装置将用于管理第一临时缺陷信息区的第一缺陷管理信息记录在记录介质中的临时缺陷管理信息区中。

接下来，在操作905中，检查记录介质是否需要被最终确定。如果确定记录介质不需要被最终确定，那么操作901至904被重复，同时在操作906中，分给记录操作、临时缺陷信息区以及临时缺陷管理信息的索引加1。在操作907中，如果在操作905中确定记录介质需要被最终确定，那么最后所记录的临时缺陷管理信息和相应的临时缺陷信息被记录在DMA中，并且最后所记录的数据的位置的信息被记录在数据区中。即，最后所记录的临时缺陷管理信息和临时缺陷信息作为最后临时缺陷管理信息和临时缺陷信息被记录在DMA中。因为一旦记录介质被最终确定，备用区的存在变得毫无意义，所以最好备用区信息不被记录在DMA中。而关于在用户数据区所记录的数据的位置的信息，即PSN和LSN，被记录在DMA中。

最终的临时信息和最终的管理信息可被重复地记录在DMA中，从而提高数据检测的可靠性。此外，写入后验证的方法可对最终的临时缺陷管理信息和临时缺陷信息执行。如果缺陷从这两条信息中被检测出，那么在其中发生缺陷的记录介质的区域和记录在具有缺陷的区域后面÷的数据可被看作不可用，即，它们被指定为缺陷区，并且最终的临时缺陷管理信息和临时缺陷信息可被再次记录在缺陷区的后面。

同时，在上述的实施例中，备用区的尺寸在每一记录操作期间被周期性地调整，但是调整的周期不受限制。例如，每隔一个记录操作，备用区的尺寸可被调整。

                      产业上的可利用性

如上所述，本发明提供了一种根据记录介质中的缺陷的发生率来分配备用区而导致了数据区的有效的使用的方法和装置，以及一种使用本发明的实施例的方法和装置的在其上具有备用区的记录介质。具体地讲，在一次写入记录介质中发生的缺陷能被管理，并且备用区根据在记录介质中的缺陷的发生率能够被分配，从而数据区能够被有效地使用。

尽管参照其一些方面已经具体地显示和描述了本发明，但是本领域的技术人员应该理解，在不脱离由所附权利要求所限定本发明的精神和范围的情况下，可以在其中做各种形式和细节的改变。