公开/公告号CN1540326A
专利类型发明专利
公开/公告日2004-10-27
原文格式PDF
申请/专利权人 攀枝花钢铁有限责任公司钢铁研究院;
申请/专利号CN200310110818.0
发明设计人 易礼均;
申请日2003-10-31
分类号G01N23/20;
代理机构成都虹桥专利事务所;
代理人王建国
地址 617000 四川省攀枝花市建设路1号
入库时间 2023-06-18 15:46:03
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-05-25
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N23/20 授权公告日:20060301 终止日期:20091031 申请日:20031031
专利权的终止
2006-03-01
授权
授权
2005-01-05
实质审查的生效
实质审查的生效
2004-10-27
公开
公开
技术领域
本发明涉及一种利用X-射线粉晶衍射分析(XRD)定量测定样品中不同物相含量的方法,尤其是利用X-射线粉晶衍射分析(XRD)对TiO2中金红石型TiO2和锐钛型TiO2含量的快速定量测定方法。
背景技术
TiO2是一种用途广泛的化工产品,有金红石型和锐钛型二种晶型。由于这二种晶型的结构不同,其化学性质和用途也不相同,不同的晶型和含量可分别用于化工催化剂、造纸、化妆品、涂料、塑料、搪瓷、电焊条焊药、电器元件的添加剂等。因此需要对TiO2的研发、生产过程及产品中的金红石型TiO2和锐钛型TiO2的含量进行快速测定。金红石型TiO2和锐钛型TiO2是成份相同、结构不同的同素异构体,所以只能用衍射的方法进行测定,且其最方便、快捷的方法就是X-射线粉晶衍射分析(XRD)。X-射线粉晶衍射定量分析基本的方法有外标法、内标法和K值法。这些方法的基本情况如下:
1、外标法:需要与待测相相同的标样,要求标样与试样的线吸收系数接近。分别测量标样和试样中待测相的选定的相同晶面的衍射线累积强度,利用强度比计算试样中待测相的含量。
2、内标法:需要与待测相相同的标样(X)和参考标样(S)。用标样(X)和参考标样(S)配制成一系列参考标样(S)含量相同,标样(X)含量不同的样品,测定样品中的累积强度比(IX/IS),并绘制工作曲线。在试样中加入与制作工作曲线时相同含量的参考标样(S),测量混和样中的累积强度比(IX/IS),从工作曲线上求出待测相(X)的含量。其中,IX-待测相(准备测量的物质)的衍射线累计强度,IS-参考标样(为了测量待测相的含量而使用的,作为基准物质的标准样品)的衍射线累计强度,以下同。
3、K值法:需要与待测相相同的标样(X)和参考标样(S)。用用标样(X)和参考标样(S)配制成参考样品,测量参考样品中标样(X)和参考标样(S)的累积强度(IX、IS),算出K值。在试样中加入参考标样(S),测量混和样中标样(X)和参考标样(S)的累积强度(IX、IS),计算出待测相(X)的含量。
用标样测定K值和进行X-射线粉晶衍射定量分析,对选用的标样必须有严格的要求,要求标样:1、是结构纯物质;2、物理、化学性质稳定,不易潮解;3、可研磨性好;4、用于测量的衍射线强度要强,其峰位与待测相的测量衍射线接近又互不重叠,也不受其它衍射线干扰;5、标样的颗粒半径范围为0.1~50μm。由于对标样的要求条件所限,很难找到理想的标样,有的物质就不可能获得理想的标样,这就是至今国内外大多数的物质都不能用X-射线粉晶衍射定量分析方法进行定量相分析的原因。以上方法的共同的不足是都需要标样且耗时长,内标法和K值法地测定过程还比较复杂,不适宜对TiO2中金红石型TiO2和锐钛型TiO2含量的快速定量分析测定。
发明内容
为了克服现有X-射线粉晶衍射定量分析方法需要标样而不适宜对TiO2中金红石型TiO2和锐钛型TiO2含量的快速定量分析测定的不足,本发明提供一种不需要标样,利用X-射线粉晶衍射分析对TiO2中金红石型TiO2和锐钛型TiO2含量进行快速定量测定的方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:TiO2中金红石型和锐钛型含量的快速定量测定方法,使用在粉晶衍射JCPDS卡片公开数据库中可以查到的金红石TiO2和锐钛型TiO2与第三种物质的的X射线粉末衍射线累积强度比IR/IC和IA/IC,采用如下步骤进行定量测定:
(1)将上述X射线粉末衍射线累积强度比IR/IC和IA/IC,换算成金红石TiO2和锐钛型TiO2之间的K值,即(IR/IC)/(IA/IC)=IR/IA=0.791;
(2)设待测TiO2粉体或钛白粉中的金红石型TiO2和锐钛型TiO2的含量之和为100%,即XR+XA=1;
(3)将待测TiO2粉体或钛白粉制成粉末样,在X-射线衍射分析仪上分别测量金红石TiO2的(110)面、锐钛型TiO2的(101)面的粉末衍射线累积强度IR和IA。
(4)根据
(5)根据待测TiO2粉体或钛白粉中的杂质含量,计算出TiO2的含量占待测TiO2粉体或钛白粉总量的百分比为n%,对上述计算出的待测TiO2粉体或钛白粉中的金红石型TiO2和锐钛型TiO2的含量XR和XA进行修正为:XR=XR×n%,XA′=XA×n%。
本发明的有益效果是,由于利用了现有的、在粉晶衍射JCPDS卡片索引,在公开数据库中可以查到的金红石TiO2(R)和锐钛型TiO2(A)与第三物质的X射线粉末衍射线累积强度比IR/IC和IA/IC,来计算出金红石TiO2(R)和锐钛型TiO2(A)之间的K值为0.971的方式不用测量K值,因而不需要标样即可测定并计算出TiO2粉体或钛白粉中的金红石型TiO2和锐钛型TiO2的含量在方法简单,操作方便且速度快。不用在分析样品中加入任何标样或其它物质,直接进行测量,没有称样、制样、混样、样品不均匀等等步骤和问题,是真正意义上的无标定量分析方法。用K值法测量测定一个样品要两小时以上,用本发明的方法测定一个样品用时不到十分钟,尤其适合于对TiO2粉体、钛白粉中的金红石型TiO2和锐钛型TiO2的含量进行快速测定,对TiO2粉体、钛白粉的研发、生产工艺研究以及生产过程的质量控制、产品质量的测定十分有利。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明进一步说明。
各符号的具体含义如下:
IR-金红石型TiO2的(110)晶面衍射线的累计强度;
IA-锐钛型TiO2的(101)晶面衍射线的累计强度;
IC-是JCPDS卡片索引中第三物质的衍射线累计强度;
XR-金红石型TiO2的含量;
XA-锐钛型TiO2的含量;
K-比例常数。
本发明的TiO2中金红石型和锐钛型含量的快速定量测定方法,使用在粉晶衍射JCPDS卡片公开数据库中可以查到的公开发布的、全世界公认和通用的金红石TiO2和锐钛型TiO2与第三种物质的的X射线粉末衍射线累积强度比IR/IC和IA/IC,采用如下步骤进行定量测定:
(1)将上述X射线粉末衍射线累积强度比IR/IC和IA/IC,换算成金红石TiO2和锐钛型TiO2之间的K值,即(IR/IC)/(IA/IC)=IR/IA=0.791;
(2)设待测TiO2粉体或钛白粉中的金红石型TiO2和锐钛型TiO2的含量之和为100%,即XR+XA=1;
(3)将待测TiO2粉体或钛白粉制成粉末样,在X-射线衍射分析仪上分别测量金红石TiO2的(110)面、锐钛型TiO2的(101)面的粉末衍射线累积强度IR和IA。
(4)根据
(5)根据待测TiO2粉体或钛白粉中的杂质含量,计算出TiO2的含量占待测TiO2粉体或钛白粉总量的百分比为n%,对上述计算出的待测TiO2粉体或钛白粉中的金红石型TiO2和锐钛型TiO2的含量XR和XA进行修正为:XR′=XR×n%,XA′=XA×n%。
以上所述的第三种物质可以是:α-Al2O3、Zn粉、α-Fe2O3等,其金红石TiO2和锐钛型TiO2与α-Al2O3、Zn粉、α-Fe2O3的X射线粉末衍射线累积强度比IR/IC和IA/IC,以及所换算的K值见下表:
实施例:TiO2中金红石型和锐钛型含量的快速定量测定方法,使用在粉晶衍射JCPDS卡片索引公开数据库中金红石TiO2和锐钛型TiO2与α-Al2O3的X射线粉末衍射线累积强度比IR/IC=3.40和IA/IC=4.30,采用如下步骤进行定量测定:
(1)将上述X射线粉末衍射线累积强度比IR/IC=3.40和IA/IC=4.30,换算成金红石TiO2和锐钛型TiO2之间的K值,即(IR/IC)/(IA/IC)=IR/IA=0.7907,取K=0.791;
(2)设待测TiO2粉体或钛白粉中的金红石型TiO2和锐钛型TiO2的含量之和为100%,即XR+XA=1;
(3)将待测TiO2粉体或钛白粉制成粉末样,在X-射线衍射分析仪上分别测量金红石TiO2的(110)面、锐钛型TiO2的(101)面的粉末衍射线累积强度IR和IA。
(4)根据
(5)因待测TiO2粉体或钛白粉制成粉末样不含杂质,因而不需修正。
以下是对8个试样的测量结果:
机译: 金红石型(TiO2)单晶的制造方法,金红石型(TiO2)单晶以及使用单晶获得的花样
机译: 金红石型TiO.sub.2涂层的无镉小虫灯,在金红石型晶格中含有铬和锑
机译: 一种细碎,耐候性高,金红石型TiO2颜料,用于合成聚合物的着色