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光谱测量方法和执行所述方法的装置(诸多变型)

摘要

本发明方法的特征在于系统通过把所述系统的图像投射到包含光电元件的周期系统上,使驻光波的干涉条纹以空间信号形式记录。从光电元件接收的电信号用周期系统中所述光电元件的位置关系进行记录,并进行分析。本发明光谱测量方法在包括以下光学共轭元件的干涉仪中实现:辐射光源、反射镜、一个或两个薄的部分透射光敏感层、具有光电管的周期系统、一个光谱分析仪和任意的一个分光器。本发明的光谱测量方法和实现所述方法的干涉仪能够在宽光谱范围内使波长测量的精度增加2-5倍。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-06-11

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2005-01-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-10-27

    公开

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