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延迟故障检查质量评价方法

摘要

发明提供了一种延迟故障检查质量评价方法,可以解决在先技术中由于难于对不能测试的延迟故障全部进行计算,故在计算延迟故障用的检查系列的故障检出率时,不能进行不将不能测试的故障数量排除在外的方式进行故障检出率的计算,由此故障检出率无法正确地反映测试的质量的问题。本发明通过选择一部分延迟故障,对已选择出的延迟故障中不能测试的延迟故障数量进行分析的方式,对全部延迟故障中包含的不能测试的故障数量进行推定。采用这些值,正确地计算出能反映测试质量的故障检出率。

著录项

  • 公开/公告号CN1525188A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2004-09-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下电器产业株式会社;

    申请/专利号CN200410028459.9

  • 发明设计人 竹冈贞己;梶原诚司;

    申请日2004-01-30

  • 分类号G01R31/3181;

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人马莹

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2023-12-17 15:30:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-09-13

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2004-09-01

    公开

    公开

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