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长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法

摘要

本发明涉及一种长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法,更确切地说是在正常照明条件下,全过程自动测试长余辉荧光粉发光特性的自动测试装置及测试方法的发明。它由模拟D65光源、电动快门、测试器、光度计、照度监视器和计算机CPU构成。模拟D65光源通过激发路光纤分别与电动快门、照度监视器连接,电动快门又经测量路光纤接测试器,测试器通过测量路光纤接光度计,光度计、电动快门、照度监视器及模拟D65光源又通过电缆分别与计算机CPU相连。本发明其结构设计简单,布局紧凑,操作简便。可在正常照明条件下,准确地全过程的自动对长余辉荧光粉发光特性进行测试,可获得完整的理想测试结果。

著录项

  • 公开/公告号CN1517700A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2004-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京师范大学;

    申请/专利号CN03100491.1

  • 申请日2003-01-16

  • 分类号G01N21/64;G01J3/443;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100875 北京市海淀区北京师范大学

  • 入库时间 2023-12-17 15:22:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-03-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N21/64 授权公告日:20100317 终止日期:20130116 申请日:20030116

    专利权的终止

  • 2010-03-17

    授权

    授权

  • 2006-03-08

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-08-04

    公开

    公开

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