公开/公告号CN101635173B
专利类型发明专利
公开/公告日2012-10-03
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华虹NEC电子有限公司;
申请/专利号CN200810043650.9
申请日2008-07-21
分类号G11C16/26(20060101);G11C29/50(20060101);
代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;
代理人顾继光
地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号
入库时间 2022-08-23 09:11:42
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-01-08
专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G11C 16/26 变更前: 变更后: 申请日:20080721
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
2012-10-03
授权
授权
2010-03-24
实质审查的生效
实质审查的生效
2010-01-27
公开
公开
机译: 用于非挥发性半导体存储器的过度擦除细胞检测系统,用于非挥发性半导体存储器的过度擦除细胞消除系统,用于非导电半导体存储器的非易失性电池检测方法,用于电介质记忆的电介质超导体检测方法挥发性半导体存储器
机译: 用于非挥发性半导体存储器单元的自调谐电压发生器,用于非挥发性半导体存储器单元的非挥发性半导体存储器以及用于自备存储器单元的电压自产生的方法
机译: 自动选择内部或外部非挥发性存储器作为响应于存在或不存在外部非挥发性存储器的程序代码源的集成电路和方法