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非挥发存储器的自校准方法和电路及非挥发存储器电路

摘要

本发明公开了一种非挥发存储器读出电路的自校准方法,将记录了基准电流的个性化数据用比特对的形式存入存储器,对灵敏放大器进行调节,当输出的个性化数据中“0”和“1”的数量相同时,依据该个性化数据得到基准电流的大小。本发明还公开了一种非挥发存储器的自校准电路,包括个性化数据存储模块、灵敏放大器模块、逻辑判断模块和扫描模块。本发明又公开了一种非挥发电可擦除的存储器电路,包括存储器单元阵列和非挥发存储器读出电路的自校准电路。本发明不需要额外的熔断器或差分单元,即能够安全可靠的解决死锁问题而不增加电路面积和测试成本,可以广泛应用于各种工艺的OTP,MTP,EEPROM或Flash EEPROM等各类非挥发存储器,有效提高存储器的可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN101635173B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-10-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹NEC电子有限公司;

    申请/专利号CN200810043650.9

  • 发明设计人 王楠;姚翔;

    申请日2008-07-21

  • 分类号G11C16/26(20060101);G11C29/50(20060101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人顾继光

  • 地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-01-08

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G11C 16/26 变更前: 变更后: 申请日:20080721

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2012-10-03

    授权

    授权

  • 2010-03-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2010-01-27

    公开

    公开

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