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原子光谱仪样品进入方法

摘要

本发明属于分析仪器领域。本发明由以下步骤组成:(1)加热含元素的样品溶液与氢的还原反应体系,使该反应(生成氢化物)在高于室温的温度下进行。(2)使生成的氢化物从样品溶液(或残渣)中分离出来。(3)除去与分离出来的氢化物一起伴随的溶剂气雾。(4)使除去溶剂气雾后的氢化物被载气导入原子光谱仪中的原子(离子)化器中进行光谱或质谱测定。该发明用于原子光谱仪(AFS,AAS,ICP-AES,ICP-MS等)上的进样系统,不仅适用于传统上易形成氢化物的九个元素(砷,锑,铋,锗,锡,铅,硒,碲,汞)的样品分析进入,也适用于其它几十种元素(金,银,钴,钯,......等)的样品分析进入。

著录项

  • 公开/公告号CN1437014A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2003-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 李学璧;

    申请/专利号CN03103223.0

  • 发明设计人 段旭川;李鸿敏;

    申请日2003-01-25

  • 分类号G01N21/31;G01N1/28;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 300060 天津市河西区体院东高风里21-404

  • 入库时间 2023-12-17 14:52:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2005-11-23

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2003-08-20

    公开

    公开

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