法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2010-10-06
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R31/26 授权公告日:20051207 申请日:20011126
专利权的终止
2009-01-21
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2005-12-07
授权
授权
2003-12-17
实质审查的生效
实质审查的生效
2003-06-04
公开
公开
机译: 集成电路,用于集成电路的测试器,用于集成电路的测试方法,用于集成电路的测试方法程序以及将带有记录方法的介质记录到集成电路的测试方法中
机译: 模板的测试方法,模板的制作方法,使用模板的半导体集成电路的制作方法以及模板的测试系统
机译: 集成电路芯片的LSI测试座及集成电路芯片的测试方法