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用光学全息干涉技术对物体中残余应力进行实时无损测定的方法与设备

摘要

本发明涉及零件、机器部件和机械装置、各种材料的无损检验方法和设备,具体涉及基于光学全息干涉技术无损测定残余应力的方法和设备。首先,记录初始状态下物体检测区域的全息图。然后,通过将物体表面暴露在矩形高电流脉冲下,实现检测区域的检测点中的残余应力释放。最后,制作物体的严格相同区域中的干涉图。由干涉图中的条纹形状及尺寸确定检测区域的残余应力。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B9/027 授权公告日:20060816 终止日期:20141019 申请日:20001019

    专利权的终止

  • 2008-10-01

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 变更前: 变更后: 申请日:20001019

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2006-08-16

    授权

    授权

  • 2003-07-16

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-04-30

    公开

    公开

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