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辐射探测器、用在平面束射线照相中的设备及检测电离辐射的方法

摘要

一种用于电离辐射的探测的探测器(64);一种用在平面束射线照相中、包括这样一个探测器的设备;及一种用来探测电离辐射的方法。该探测器包括:一个腔室,填充有一种电离介质;第一和第二电极装置(2、1、18、19),提供在所述腔室中,在它们之间有一个空间,所述空间包括一个转换体积(13);用于电子雪崩放大的装置(17),布置在所述腔室中;及至少一个读出元件装置(15),用于探测电子雪崩。提供一个辐射进口,从而辐射进入在第一与第二电极装置之间的转换体积。为了实现良好定义的雪崩,用于电子雪崩放大的装置包括多个雪崩区域。

著录项

  • 公开/公告号CN1350646A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2002-05-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 埃克斯康特尔股份公司;

    申请/专利号CN00807426.7

  • 申请日2000-03-30

  • 分类号G01T1/185;H01J47/02;

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人冯谱

  • 地址 瑞典丹德吕德

  • 入库时间 2023-12-17 14:19:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-06-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01T1/185 授权公告日:20050608 终止日期:20100330 申请日:20000330

    专利权的终止

  • 2005-06-08

    授权

    授权

  • 2002-06-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-05-22

    公开

    公开

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