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X射线系统使用多个模型中任一个对图象质量进行自动评估的方法和装置

摘要

本申请提供一种X-射线系统参数自动评估系统。生成并保存一个物理模式或模板,每一个模板对应于一个所需模型。该自动系统输入一个灰度X-射线图象,然后处理该图象以确定图象构件。如果构件不匹配,则排除该图象。然后该系统确定输入图象中对应于预期物理结构的标志的位置。所说标志包括一个周边环、垂直和水平线段件、和基准段。该系统利用标志预测在其中进行X-射线系统参数测量的研究区(ROI)。最后,在识别的ROI中测量X-射线系统参数。

著录项

  • 公开/公告号CN1283953A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2001-02-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 通用电气公司;

    申请/专利号CN00120114.X

  • 申请日2000-07-17

  • 分类号H05G1/26;G06T1/00;

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人陈霁;张志醒

  • 地址 美国纽约州

  • 入库时间 2023-12-17 13:50:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-09-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H05G1/26 授权公告日:20060111 终止日期:20140717 申请日:20000717

    专利权的终止

  • 2006-01-11

    授权

    授权

  • 2002-09-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2001-02-14

    公开

    公开

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