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液晶显示玻璃的透明导电层和定向膜的厚度和折射率的测量方法

摘要

本发明涉及一种在液晶显示玻璃基片上,对透明导电层和定向膜的厚度和折射率进行测量的方法,其过程是将待测的液晶显示玻璃在去掉透明导电层或定向膜后,直接放在另一块同样的玻璃基片上,然后应用椭偏仪,在两个不同的入射角下测量椭偏参数,并计算出整体样品的两个不同的复折射率。将整体样品中的一块玻璃换成含有透明导电层或定向膜的液晶显示玻璃,应用椭偏仪,在同样的两个入射角下测量出椭偏参数,以两组本底的复折射率为已知参数,即可计算出待测薄层的折射率和厚度。

著录项

  • 公开/公告号CN1087988A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1994-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN93117925.4

  • 发明设计人 王新久;

    申请日1993-09-30

  • 分类号G01B11/06;G01N21/41;

  • 代理机构清华大学专利事务所;

  • 代理人罗文群

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园

  • 入库时间 2023-12-17 12:31:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1998-11-18

    专利申请的视为撤回

    专利申请的视为撤回

  • 1994-06-15

    公开

    公开

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