通过界外图形分析的涂层缺陷检测系统

摘要

本发明的缺陷检测系统(10)将一个或多个正交配置的光束(54和56)照射到被涂覆光纤(32)上，从而使光通过光纤及其涂层(31)的整个宽度。光通过光纤和质量良好的涂层时，照射入被涂覆光纤中的光束的前向散射部分产生一特定的、光强度级可预测的图形。涂层中的各种缺陷会使光通过被涂覆光纤的光程改变，从而使某些胶向散射光在正常预期的图形外的光强增加。本发明精确可靠地检测出在光纤的涂层中象空气泡之类短暂出现的缺陷。