首页> 中国专利> 处理数字正电子发射断层摄影的探测器像素性能变化

处理数字正电子发射断层摄影的探测器像素性能变化

摘要

一种非瞬态计算机可读介质存储指令,所述指令能由包括至少一个电子处理器(20)的工作站(18)读取并运行以执行质量控制(QC)方法(100)。所述方法包括:接收由像素化探测器(14)采集的当前QC数据集和由所述像素化探测器采集的一个或多个先前QC数据集;根据所述当前QC数据集和所述一个或多个先前QC数据集来确定所述像素化探测器的探测器像素(16)随着时间的稳定性水平;当针对所述探测器像素确定的所述稳定性水平在稳定性阈值范围之外时,将所述像素化探测器的探测器像素标记为死的;以及在与所述工作站可操作地连接的显示设备(24)上显示对被标记为死的所述探测器像素的识别(28)。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-19

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号