首页> 中国专利> 基于CLEAN算法的电离层电子密度反演方法

基于CLEAN算法的电离层电子密度反演方法

摘要

本发明属于信号与信息处理领域,具体涉及一种基于CLEAN算法的电离层电子密度反演方法、系统、装置,旨在解决非相干散射等离子体谱线计算量大以及电子密度剖面反演精度不够的问题。本系统方法包括:获取IQ数字信号;提取并删除IQ数字信号中脉冲发射期间采集的信号部分,构建二维矩阵;通过频域FFT算法解码计算各距离门高度的信号功率谱;迭代获取各距离门高度的功率谱数据进行累加,并通过系统频率响应函数进行去噪;基于CLEAN算法对去噪后的功率谱数据解卷积;通过样条插值法获取整个高度剖面的等离子体谱线,并利用朗缪尔色散关系拟合得到电离层电子密度剖面。本发明提高了等离子体谱线计算的实时性和电子密度剖面反演的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN111580061A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院地质与地球物理研究所;

    申请/专利号CN202010430957.5

  • 申请日2020-05-20

  • 分类号G01S7/41(20060101);

  • 代理机构11576 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郭文浩;尹文会

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路19号

  • 入库时间 2023-12-17 11:45:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-25

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号