公开/公告号CN111581826A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-08-25
原文格式PDF
申请/专利权人 清华大学;深圳光启高等理工研究院;
申请/专利号CN202010388507.4
申请日2020-05-09
分类号G06F30/20(20200101);
代理机构44311 深圳市鼎言知识产权代理有限公司;
代理人郑海威;曾昭毅
地址 100084 北京市海淀区北京100084-82信箱
入库时间 2023-12-17 11:45:16
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-25
公开
公开
机译: 使用超材料方法测量掺杂层介电常数的设备和具有该方法的计算机可读存储介质
机译: 使用超材料方法测量掺杂层介电常数的设备和具有该方法的计算机可读存储介质
机译: 打印电路板的设计方法,用于实现该设计方法的平板式铅评估程序,具有计算机可读记录介质的评估装置,用于记录该平板式铅评估程序的评估设备以及通过使用此设计方法,平板式铅垫设计的印刷电路板设备