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基于磁阻效应的用于距离或角度测量的电磁测量系统

摘要

本发明涉及一种用于距离或角度测量的测量系统及测量方法。根据一实施例,所述测量系统包括标尺,所述标尺具有沿着测量方向变化并且产生相应变化的磁场的磁化。所述测量系统还包括至少一个探测头,所述至少一个探测头沿测量方向根据与所述标尺的相对位置被变化的磁场穿过。所述探测头包括:至少一个铁磁膜,所述至少一个铁磁膜由于磁阻效应具有和磁场相关且沿着测量方向变化的局部电阻抗;以及至少一个传感器单元,所述至少一个传感器单元被配置成产生与膜的局部电阻抗相关的至少两个相移的传感器信号。

著录项

  • 公开/公告号CN111492206A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 维克多·瓦西洛尤;保罗·图祖;

    申请/专利号CN201880080182.4

  • 发明设计人 维克多·瓦西洛尤;保罗·图祖;

    申请日2018-10-09

  • 分类号

  • 代理机构深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙);

  • 代理人张约宗

  • 地址 奥地利上奥地利州布劳瑙市

  • 入库时间 2023-12-17 11:36:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D5/14 申请日:20181009

    实质审查的生效

  • 2020-08-04

    公开

    公开

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