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基于双层嵌套结构的SAR装备任务失效成因推理方法

摘要

本发明公开了一种基于双层嵌套结构的SAR装备任务失效成因推理方法,涉及SAR装备保障技术领域,包括:收集已知异常类型的SAR图像数据;重构样本类别,提取样本集;计算图像质量评估特征;图像特征变换、归一化处理和类标记合并;整合获取训练数据集和训练双层模型;将未知异常SAR图像处理为待测数据集;SAR装备任务失效成因推理。本发明采用双层随机森林模型,对易误分的失效原因进行合并,从而将总的类别数降低,在第一层分类器的结果的基础上使用图像局部特征对易错分的样本进行第二次分类,从而增强了随机森林模型对于异常图像分类的精度,同时克服了利用不同地形SAR图像数据训练模型效果不佳的难题,有效地提高了SAR装备任务失效成因推理的准确度。

著录项

  • 公开/公告号CN111553421A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202010351812.6

  • 发明设计人 凡时财;史顺周;邹见效;徐红兵;

    申请日2020-04-28

  • 分类号G06K9/62(20060101);G06T7/00(20170101);G06T7/45(20170101);

  • 代理机构51229 成都正华专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈选中

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-12-17 11:32:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-18

    公开

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