首页> 中国专利> 一种测量雷达散射截面参数现场校准方法及装置

一种测量雷达散射截面参数现场校准方法及装置

摘要

本申请公开一种测量雷达散射截面参数现场校准方法及装置。获取被校准雷达未校准前使用雷达截面参数修正值发射的射频信号,计算被校准雷达散射截面参数RCS=σ2;将获取的射频信号转换成包含距离延时和多普勒频移参数的回波信号;将回波信号返回给被校准雷达,获得标准雷达散射截面参数值RCS=σ1;调整被校准雷达雷达截面参数修正值,使σ2=σ1;设置使用调整后的雷达截面参数修正值;完成被校准雷达现场校准修正;通过现场不断调整被测雷达的雷达截面参数修正值进行被测雷达校准,降低雷达散射截面参数校准不确定度。

著录项

  • 公开/公告号CN111551904A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电计量测试研究所;

    申请/专利号CN202010257855.8

  • 发明设计人 丁孝永;关宏凯;周述勇;贾冒华;

    申请日2020-04-03

  • 分类号G01S7/40(20060101);

  • 代理机构11315 北京国昊天诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人南霆

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号142信箱408分箱

  • 入库时间 2023-12-17 11:24:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-18

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号