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一种抗菌制品中纳米银迁移表征方法

摘要

一种抗菌制品中纳米银迁移表征方法,属于纳米技术领域。该方法具体步骤包括:(1)样品预处理;(2)建立SP‑ICP‑MS模式下纳米颗粒粒径标准曲线;(3)建立银离子浓度校准标准曲线;(4)SP‑ICP‑MS检测样品。本方法基于单颗粒等离子体质谱(SP‑ICP‑MS)进行颗粒分析的原理,将样品中银离子与银纳米颗粒区分开来并能同时完成纳米颗粒浓度、粒径、粒度分布和颗粒团聚的检测且不受其他纳米颗粒的干扰的优势,可取代现有的纳米材料表征技术,成为一种新兴的快速鉴别的手段。

著录项

  • 公开/公告号CN111537595A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江方圆检测集团股份有限公司;

    申请/专利号CN202010349453.0

  • 申请日2020-04-28

  • 分类号G01N27/62(20060101);

  • 代理机构33213 杭州浙科专利事务所(普通合伙);

  • 代理人沈渊琪

  • 地址 310018 浙江省杭州市杭州经济技术开发区下沙路300号

  • 入库时间 2023-12-17 11:24:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-14

    公开

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