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一种IGBT动态参数测试电路杂散电容提取方法及系统

摘要

本发明公开了一种IGBT动态参数测试电路杂散电容提取方法及系统,包括:测量IGBT器件在瞬态开通过程中的发射极实测电压和集电极实测电流,得到发射极实测电压在瞬态开通过程中的电压变化曲线和集电极实测电流在瞬态开通过程中的电流变化曲线;利用电压变化曲线计算发射极实测电压在瞬态开通过程的结束时刻与开始时刻的电压差;利用电流变化曲线计算在瞬态开通过程中集电极理想电量与实测电量的电量差;利用电量差除以电压差得到IGBT动态参数测试电路的杂散电容。本发明基于IGBT器件的开通瞬态波形,通过实测的方法计算动态测试平台的杂散电容,可以有效评估动态测试设备测量结果的准确性,为制定设备杂散电容的标准提供了依据。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20200420

    实质审查的生效

  • 2020-08-04

    公开

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