一种偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法

摘要

本发明涉及光学镜片检测技术领域，特别涉及偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法，包括机架，通过在机架上设置发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，转动机构转动带动在标准偏光组件转动，在标准偏光组件转动过程中，发光机构产生的光线依次透过标准偏光组件和待测镜片，且光线的亮度在强弱之间变化，通过设置检测组件检测依次透过标准偏光组件和待测镜片的光线的亮度，根据转动机构的转动角度即可计算出待测镜片的偏光轴位；通过采用检测组件检测透过偏振片的光线的亮度，能够排除人工观察带来的误差，从而提高检测精确度。