公开/公告号CN111562002A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-08-21
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院西安光学精密机械研究所;
申请/专利号CN202010322232.4
申请日2020-04-22
分类号G01J3/28(20060101);G01J3/447(20060101);G01J3/45(20060101);G01J3/02(20060101);
代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;
代理人汪海艳
地址 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
入库时间 2023-12-17 10:54:40
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-21
公开
公开
机译: 使用干涉仪进行光谱成像的方法和装置,其中有限数量的相干光束相互干涉
机译: 使用平移型干涉仪进行光谱成像的方法和装置,其中有限数量的相干光束相互干涉
机译: 高分辨率光谱和光谱成像的方法和装置