用于对点云进行上采样的方法和装置

摘要

用于对表示3D对象的点云进行上采样的方法包括：‑基于至少一个期望的采样率(K)来检测(2)属于该点云的至少一个欠采样区域的点；‑对于每个检测到的点，获得(12)关联的切面；‑如果邻近点和与检测到的点关联的切面之间的距离小于第一阈值，则在点云中插入(14)每个检测到的点的至少一个邻近点。