一种突发下货产品的工艺风险评估方法及评估系统

摘要

本发明涉及集成电路制造领域，提供了一种突发下货产品的工艺风险评估方法，包括如下步骤：S1、判断当前下货的产品的工艺流程是否存在风险，如所述工艺流程存在风险则执行S2，否则退出；S2、获取所述产品前一批次的工艺流程，并与步骤S1中的工艺流程进行比对；S3、获取所述产品的基准产品的工艺流程，并与步骤S1中的工艺流程进行比对；S4、根据步骤S2和S3的比对结果生成报告，并发送邮件给工程师。本发明的优点是能够避免因忽略或遗漏导致的产品工艺流程的误差而引致的低良率甚至报废风险。