一种倍增CCD倍增增益拟合测量方法

摘要

本发明涉及电子元器件测试技术领域，尤其涉及一种倍增CCD(EMCCD)倍增增益拟合测量方法领域。所述方法包括如下步骤：设置倍增增益控制寄存器为0，EMCCD在平场光及暗场下分别针对不同的曝光时间，得到图像灰度信号的一组均值；设置倍增增益控制寄存器为x，EMCCD在平场光及暗场下分别针对不同的曝光时间，得到图像灰度信号的一组均值；通过最小二乘法拟合两条直线，直线斜率与直线斜率之比为EMCCD当前倍增增益。本方法的有益效果在于提供了一种基于多组数据的EMCCD倍增增益测量方法，对比现有方法，能够获得更精确的倍增增益，稳定可靠，适于工程应用。