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一种质子束靶点和束线中心位置测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种质子束靶点和束线中心位置测量装置及其测量方法。本发明的测量装置包括N元四极透镜、激光器、靶和闪烁屏;靶和闪烁屏分别位于N元四极透镜的前方和后方,测量质子束经N元四极透镜聚焦后在闪烁屏上的位置,将N元四极透镜变换到M元四极透镜,测量质子束经M元四极透镜聚焦后在闪烁屏上的位置,根据放大倍数和质子束位置,计算出靶点处产生的质子束相对于束线中心的偏移量以及闪烁屏上的束线中心位置;本发明利用N元四极透镜和由N元四极透镜变换的M元四极透镜,结合闪烁屏,利用放大倍数的差异,精确确定束线中心和质子束靶点的位置,从而实现高精度的对心。

著录项

  • 公开/公告号CN111399026A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN202010236443.6

  • 发明设计人 朱军高;颜学庆;林晨;

    申请日2020-03-30

  • 分类号

  • 代理机构北京万象新悦知识产权代理有限公司;

  • 代理人王岩

  • 地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号

  • 入库时间 2023-12-17 10:24:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T1/29 申请日:20200330

    实质审查的生效

  • 2020-07-10

    公开

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