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用于电子衍射分析的改进系统

摘要

公开一种处理在电子显微镜中获得的衍射图案图像的方法和系统。方法包括:根据第一组显微镜条件使电子束入射到校准样品上以从其上发射所得到的电子并使用检测器装置监测所得到的电子以获得包括具有值的多个像素的校准图像,第一组显微镜条件配置成使校准图像基本上不包括电子衍射图案;从校准图像中获得包括多个像素的增益变化图像,每个像素具有表示对于校准图像的对应像素而言的相对检测器装置增益的值;根据第二组显微镜条件,使电子束入射到目标样品上以从其上发射所得到的电子并使用检测器装置监测所得到的电子以获得包括具有值的多个像素的目标图像,第二组显微镜条件配置成使得目标图像包括电子衍射图案;以及针对目标图像的每个像素,根据增益变化图像的对应像素的值从像素值中去除对相对检测器装置增益的像素值的贡献以获得增益变化校正图像。

著录项

  • 公开/公告号CN111344830A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 牛津仪器纳米技术工具有限公司;

    申请/专利号CN201880063638.6

  • 发明设计人 彼得·斯泰瑟姆;安格斯·比伊克;

    申请日2018-09-28

  • 分类号

  • 代理机构北京天昊联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人顾红霞

  • 地址 英国牛津郡

  • 入库时间 2023-12-17 10:20:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/22 申请日:20180928

    实质审查的生效

  • 2020-06-26

    公开

    公开

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